Liu Group
Cryogenic advanced transport study lab
Xin Qin（秦鑫）
1. 低温强场下全光纤形变量测量系统。本系统基于迈克尔逊干涉仪，利用全光纤的光学传感手段无接触无损地测量在外加变量下样品的样品形变。测量频率可低至~10mHz量级。3Hz时取10个周期测量，噪声本底为1pm。该装置可用于测量与尺寸变化相关的相变或过程以及可以转化为形变量的物理量如磁矩。目前设计了热膨胀系数测量样品座，可用于热膨胀系数测量、磁致伸缩测量、压电效应测量等。